【摘要(yào)】  超聲成像技(jì)術(shù)是(shì)目前醫(yī)院常規使用(yòng) ♠σ∏的(de)醫(yī)學檢查手段。B超探頭作(zuò)為(wèi)B型超聲診斷儀的(d×¥₹∞e)重要(yào)核心部件(jiàn)，其價格一Ω✘∞(yī)般接近(jìn)B超儀總價格的(de)一(®₽‌yī)半，故其檢修和(hé)維護對(duì÷γ£)保證B超儀的(de)正常使用(yòng)具有(yǒu)較高(g★βāo)的(de)價值。本文(wén)在介紹B超儀及探頭原理(lǐ)的(de)基礎上("£÷λshàng)，對(duì)晶體(tǐ)故障、透鏡故障、護套損壞、外← "♦(wài)殼損壞、電(diàn)纜線外(wài)←♠™€漏和(hé)電(diàn)路(lù)闆燒壞等故障及其原因和(hé)檢×>修進行(xíng)了(le)分(fēn)∏✔δ析。

【關鍵詞】  B型超聲診斷儀 探頭 故障 檢修

    Failure Ana≥→↑lysis and Maintenance of B-Ultrasonic‍₹ Probe

    KE ♣★Guodong

    (Dept. of ∑✔λ Medical Device, Maomin✘‍α♣g People’s Hospital, Guangdong ←>♥λMaoming 525000, China)

    Abstract  Ultrasound ×≥ imaging technology iΩ♣₹☆s the conventional medic©$al examination in present ho•←‌♦spital. Probe as an importan↓€♠→t core component of the B-ultrasound diaλ'®gnostic apparatus, and its price cl"★Ωose to half of the total, the r✔☆£epair and maintenance o♥§→f the probe is of high value for the normal u≤↑se of the apparatus. On the basis of the work≠₹∏ing principles of B-ultrasonic appar ‌₹•atus and its probe, the essay m$πakes an analysis of the causes and man>₽₽itenance of crystal failure, lens fauγ₹↑§lt, jacket damage, shell damage, c•€ε←able leakage and circuit boards burned.

    Key wγ<ords  B-ultrasonic a¥"¶pparatu；probe; failurγ♦♣e；manitenance

    自(zì)B®σ↔型超聲波診斷技(jì)術(shù)于20世紀5<↓0年(nián)代應用(yòng)于醫(yī)±"™<學臨床診斷以來(lái)，B超儀因其特有(yǒu)的(de)無創性檢查技(jì)術(shù)、信息∑₽<量豐富，具有(yǒu)灰階的(de)切面圖像←$，接近(jìn)于解剖真實結構、對(duì)活動界面能(néng)作(z¥±uò)動态的(de)實時(shí)顯示，而被廣泛地(dì)應用(yòng)于人(rén↓↑)體(tǐ)內(nèi)部髒器(qì)的(de)輪≈↓ 廓及其內(nèi)部結構、表淺器(qì)官內(nèi)布組織探測、診斷及術(shù)後觀察和(hφ'•'é)治療上(shàng)，成為(wèi)醫(yī)院常規使用(yòng)的(de)醫(yī)學>‍♠檢查手段。我院有(yǒu)B型超聲診斷儀10多(✔¶duō)台，其中以日(rì)本阿洛卡和(hé)美(měi)國(guó)惠普♥®☆π的(de)品牌居多(duō)。随著(zhe)設備的(dε↑ e)使用(yòng)時(shí)間(jiān)增長(cháng)™ ↓，故障也(yě)開(kāi)始頻(pín)繁出現(xiàn)，且探頭故障較多ε↔→(duō)。由于探頭是(shì)B超儀的(de)重要(yào)核心部件(j★♥↔✔iàn)，故探頭的(de)檢修和(hé)維護對(duì)保證B超儀的(₩‍β₹de)正常使用(yòng)具有(yǒu)較高(gāo)的(de)價值‍×。

    1. B超儀工(gōng)作(zuò)原理(l↕£'ǐ)與探頭構造

    B型超聲診斷儀按其結構分(fēn)，主要(yào)由探頭、÷$σ↑發射、接收電(diàn)路(lù)、模拟信号處理(lǐ)電$ ≥&(diàn)路(lù)、鍵盤控制(zhì)電(diàn)路(lù)、數(shù)字掃描變換器(qì™ )、圖像顯示電(diàn)路(lù)以及電(diàn)源電(diàn)路(lù)等幾個(gè)部π£¥≈分(fēn)組成。探頭按其掃描方式的(d"♣  e)不(bù)同，可(kě)分(fēn)為(wèi)線陣掃描探頭和(hé)相♦​≠(xiàng)控陣掃描（扇掃）探頭兩種[1]。探頭一(yī)般由換能‌ ∞α(néng)器(qì)、殼體(tǐ)、電(dià≤₽n)纜和(hé)其它配套件(jiàn)組成。換能("‌₹​néng)器(qì)是(shì)探頭的(de)重要(yào)部件(j☆∞βiàn)，它的(de)任務是(shì)将電(d↓≈​iàn)信号變換為(wèi)超聲波信号或相(xiàng)反地(dì)将超聲波信号變換為(w®§♠èi)電(diàn)信号[2]。目前探頭可(kě)≤≠以發射和(hé)接收超聲，進行(xíng)電(>₩"↓diàn)聲、信号轉換，能(néng)夠将由主機(jī)©σ&&送來(lái)的(de)電(diàn)信号轉變為(wèi)高(gāo)頻(pí♣§★"n)振蕩的(de)超聲信号，又(yòu)能(néng)将從(cóng)組織髒器(q₩≈↑αì)反射回來(lái)的(de)超聲信号轉變為(wèi)γ♥£≠電(diàn)信号而顯示于主機(jī)的(de)顯示器(qì)上(shàng)。

    探頭作(zuò)為(wèi)B超儀的(deσ‍×)核心部件(jiàn)，由于使用(yòng)頻(pín)繁，是(s✔★hì)最容易損壞的(de)部分(fēn)。但(dàn)由于探頭價£σ格昂貴，其價格一(yī)般接近(jìn)B超儀總價格的(de)一(yī ←)半，所以，修複保養探頭具有(yǒu)很(hěn>™)高(gāo)的(de)經濟價值。雖然各種B超探頭型号不(bù)同，廠('←•€chǎng)家(jiā)各異，但(dàn)由于★$基本工(gōng)作(zuò)原理(lǐ)相(xiàng)通(tōnσ$÷g)，結構也(yě)類拟，在熟練掌握B超儀基本原理(lǐ)的(de)基礎上(shàng)，≈↕φ根據機(jī)器(qì)自(zì)檢系統提供的(d€™§σe)信息為(wèi)線索，根據探頭各部件(jiàn)↑™之間(jiān)存在的(de)密切聯系，來(lái)檢查推測判斷故障的(de)位置及原因±✔™，在較短(duǎn)的(de)時(shí)間(jiān)內(nèi)修複探頭是(shì↔​®♣)完全可(kě)以做(zuò)到(dào)的(de)。

    2. B超探頭故障分(fēn)析與檢修

    B 超探δ♦•ε頭出現(xiàn)故障很(hěn)常見(jiàn)，産生(s↑$hēng)故障的(de)原因也(yě)是(shì)δ₽♣×多(duō)種多(duō)樣，歸納起來(lái)不(bù)外"∑(wài)乎以下(xià)幾個(gè)方面：（1）探頭本身(shēn)的(de)自(z®•♣ì)然損耗。這(zhè)是(shì)因為(wèi)©✔ ∏探頭都(dōu)有(yǒu)一(yī)定的(de)使用(yòng)期限，超過使用(yòng)π €期限後，就(jiù)可(kě)能(néng)發生(shēng)<​‍'衰老(lǎo)、變質、絕緣降低(dī)和(hé)機 ♠(jī)械磨損等現(xiàn)象，嚴重的(de)甚至完全失效、λ ★漏電(diàn)等，造成故障。（2）探頭的(de)使用(yòng)環境較差。主要(yào)是(sh' ↑↕ì)環境溫度、濕度，空(kōng)氣中含腐蝕性氣體(tǐ)和(hé)灰塵，♦©探頭受到(dào)強烈振動，電(diàn)源電(dià₩γn)壓波動過大(dà)，這(zhè)些(xiē)都(dōu♠ →)可(kě)能(néng)引發儀器(qì)™π‌故障。（3）人(rén)為(wèi)故障。由于使用(yòng)者或工(gōng)程"☆技(jì)術(shù)人(rén)員(y‌$↔¥uán)工(gōng)作(zuò)責任心不(bù)強，不(bù)能(néng×←∏↑)按時(shí)對(duì)探頭進行(xíng)必要(yào)的(de)保養和(hé)維<•<☆護，違規操作(zuò)等原因引起。

    2.1 探頭部件(j≥× •iàn)故障率及原因

    根據我們對(duì)B©λ≤€超探頭維修的(de)經驗，探頭出現(xiàn)的(de)問(wèn)題主要(y& λào)有(yǒu)晶體(tǐ)故障、透鏡故障、護套損壞、外(wài)殼損壞、電(diàn)纜線外"™$(wài)漏和(hé)電(diàn)路(lù)闆燒壞，維修時(shí)也(yě)是(shì)從(←♦ cóng)這(zhè)幾個(gè)方面進行(xíng)檢查修複。各部件(jiàn)出現↑​(xiàn)故障的(de)頻(pín)率及故障原因如(rú)表1。

    表1  &n♦≈£®bsp; B超探頭部件(jiàn)故障率及原因（♦δ★次/100次）

    從(c♦¶óng)表1可(kě)以看(kàn)出，探頭的(de)損壞主要(yào)集中在電(d₹'₽βiàn)纜線外(wài)漏、外(wài)殼損壞和(∑®∏hé)護套損壞幾個(gè)方面，而這(zhè)幾個∑δ÷≥(gè)方面的(de)損壞大(dà)都(dōu)是(shì)因為(wèi)使用(y✘↔≤φòng)時(shí)間(jiān)過長(cháng)或操作(zuò)人(rén)♦'₹₽員(yuán)使用(yòng)不(bù)當，探頭受到(d¥♦ào)外(wài)界影(yǐng)響而出現(‍ xiàn)故障。晶體(tǐ)故障主要(yào)是(π∑₹shì)操作(zuò)人(rén)員(yuán)使用(yòng)時(shí)不(bù)小(xi≥♣ǎo)心将探頭碰在硬物(wù)上(shàng)，使探頭開(kāi)裂，晶片破♦×™碎或者是(shì)使用(yòng)的(de)耦合劑不(bù)®≈ 合格，長(cháng)期使用(yòng)對(duì)探頭損壞較大(dà)，嚴重的(de)會(huì​₽↓λ)使探頭表面起泡、開(kāi)裂。透鏡的(de)故Ω 障主要(yào)是(shì)長(cháng)期使用∑≠ ¥(yòng)造成自(zì)然磨損、劃痕、開(kāi)裂、腐蝕$‌∏∏、脫膠、起泡或外(wài)力碰撞造成的(de)損₩↓₩♥壞。當操作(zuò)人(rén)員(yuán)不(★✔∏δbù)正常安裝或拆卸探頭和(hé)開(kāi)關機(jī☆♣¶)時(shí)操作(zuò)不(bù)當，還(hái)會(huì)造成電(diàn)路↓₩(lù)闆燒壞。

    2.2電(diàn)纜線損壞的(de)檢修

    B超探頭所采用(yòng)的(de)電(diàn≈ ε&)纜是(shì)質量要(yào)求很(hěn)高(gāo)的(de ↔₩∑)多(duō)芯高(gāo)屏蔽電(diàn)纜，做(zuò)工♦₩(gōng)十分(fēn)精細，電(diàn)纜內(♣€nèi)導線嚴密，多(duō)的(de)有(yǒu)上(sπ hàng)百根，似發絲粗細。由于探頭多(duō)方位的(de)使用(yòng)，₩σ∞電(diàn)纜的(de)彎曲、扭轉使得(de•φ®←)電(diàn)纜的(de)外(wài)保護區(qū)絕緣層會(huì)破皮、斷裂、露出δ₩✔±了(le)裡(lǐ)面的(de)信号線，屏蔽'✘♣層的(de)破壞、斷線，圖像就(jiù)會(huì)産生(shēng)•₹♣∑幹擾的(de)波紋和(hé)缺損。

    故障現(xiàn)象：我院一(yī)台惠普SONOS5500∑>$型B超，已使用(yòng)了(le)7年(nián)多(duō)，去(q→↓ ù)年(nián)6月(yuè)出現(xià γ‌₽n)顯示器(qì)圖像嚴重幹擾，滿屏出現(xiàn÷α©)雪(xuě)花(huā)般光(guāng)點，閃爍感強烈，且無法調節輝度。

    分(fēn)析β$β★與檢修：由于探頭受到(dào)外(wài)力影(yǐng)響或操作¶¶£(zuò)人(rén)員(yuán)使用(yòng)有(yǒu)誤，探頭位置長(ch↔<ε∏áng)期放(fàng)置不(bù)當導緻電(dià​λn)纜線內(nèi)部導線斷裂。打開(kāi)外(wài)層皮套，将總的(de)屏蔽線橫向€↕劃開(kāi)，挑出幽裂線，焊好(hǎo)後，用(y≤♦òng)透明(míng)膠帶纏上(shàng)一(yī)層，用(yòng)萬用(yòng)表Ω¥©1kΩ檔測量其是(shì)否導通(tōng)，導通($&π±tōng)後，将此根導線的(de)屏蔽接好(hǎ'♠o)并纏好(hǎo)膠帶。如(rú)果多(duō)根斷裂，方法✔→₹同上(shàng)。試機(jī)，一(yī)切正常後将最外(wà​↓φ©i)層的(de)總屏蔽線焊好(hǎo)，外(wài)層皮套用(₩↑≈yòng)高(gāo)壓電(diàn)緣塑料膠帶作(zuò)了(le)固定，一(↑‌↔≈yī)年(nián)多(duō)來(lái)使用(yòng)良好÷‌×∏(hǎo)，沒有(yǒu)再出現(xiàn)故障。

    2.3 晶體(tǐ)損壞的(de)檢修λε

    故障現(xiàn)象： ¥←™我院一(yī)台使用(yòng)很(hěn)久但(dàn)質量不(bù)錯  ≤♦(cuò)的(de)阿洛卡SSD-620 黑(hēi)白(bái)超，一(yī)次檢測出來☆₹(lái)的(de)圖像中夾雜(zá)黑(hēi)影(yǐ £λ​ng)，并有(yǒu)黑(hēi)色條狀幹擾。

    分(¶'fēn)析與檢修：B超探頭內(nèi)部多(duō)數(shù)采用(yòng)的(de)是(sΩ<βhì)壓電(diàn)晶體(tǐ)，長(cháng)期使用 ×₽(yòng)後會(huì)造成晶體(tǐ)自(zσ"ì)然老(lǎo)化(huà)，不(bù)規範的(de)使‍✘λ用(yòng)或摔、碰等外(wài)力擊打會(huì)造成探頭晶體(tǐ)的≥ (de)損傷，晶體(tǐ)損傷後，B超檢測儀★₽♦'檢測出來(lái)的(de)圖像就(jiù ±)會(huì)出現(xiàn)信号衰減、圖→£•像中有(yǒu)黑(hēi)影(yǐng)、黑(hēi)條、幹擾、缺損等盲區(qū)， ♥÷♣嚴重時(shí)圖像則會(huì)“失明(mín₹$×g)”，這(zhè)些(xiē)都(dōu)會(huì)造成醫(yī)生(shēng)無•$≥法診斷，影(yǐng)響診斷質量。

    這(zhè)類的(de)故ε§障是(shì)由B超探頭晶片短(duǎn)路(lù)導緻的(de)。晶片的(de)短(d←™₩​uǎn)路(lù)可(kě)通(tōng)過測量晶片的(de)供電(diàn)電(diàn)壓λ±α來(lái)判斷，若某一(yī)晶片或晶片組©©的(de)供電(diàn)電(diàn)壓較其它的(de)為(" wèi)低(dī)，則可(kě)判斷該晶片或晶片組內(nèi)有(yǒu)短(duǎn)路(lù≤®)。更換相(xiàng)應的(de)晶片或晶片組，使得(de)探頭恢複以×♥前的(de)特性，幹擾消失。

    2.4 透鏡故障的(de)檢修

    故障現≈∏(xiàn)象：我院另一(yī)台阿洛卡λ↑φ'SSD-620 黑(hēi)白(bái)超，顯示器(qì)圖像中出現(xiàn)垂♦∏直暗(àn)條。用(yòng)手擠壓探頭垂直暗(àn)條處，垂直暗(àn)條明(míng)顯γ≈© 減弱，更換同型号探頭垂直暗(àn)條消失，初步判£✔φ★斷，聲透鏡層與匹配層之間(jiān)可(kě)能(nén"✔♣‍g)脫膠。

    分(fēn)析與檢修：聲透鏡是(shì)B超探  ≠'頭上(shàng)部接觸人(rén)體(tǐ)γ$的(de)膠狀專業(yè)物(wù)質，長(cháng)期使用(yòng)之後會(huì)造成聲透α ♠鏡自(zì)然磨損、劃痕、開(kāi)裂、腐蝕、脫膠、≤♠✘α起泡等破損，尤其是(shì)因耦合劑進入下(xià)層造成的(de)腐蝕，不(bù)σ→僅會(huì)造成僞影(yǐng)等盲區(qū)，造成醫(yī)生(shēng)的(↔<de)誤診，嚴重的(de)會(huì)損傷B超探頭晶體(tǐ)或造成漏電(®₽  diàn)，危及病人(rén)的(de)身(shēn)體(tǐ)，給病人(rén)和(hé)≤ ±機(jī)器(qì)帶來(lái)傷害。

    用(yòng)南(nán)京産704液體(tǐ)矽橡膠注≠£€入脫膠處并趕出氣泡，用(yòng)紗布帶用(y£≥​òng)力将探頭綁緊放(fàng)置24小(xiǎo)時(s₩‍hí)後松綁，故障消失，探頭恢複正常使用±←β(yòng)。證明(míng)該故障是(shì)由聲透鏡層與匹配層之間(jiān)脫膠所緻。在處‍¶¥理(lǐ)這(zhè)種故障時(shí)，使用(yòng)液體(tǐ)矽橡膠作(zuò)探頭×<聲透鏡的(de)修補材料以及聲透鏡層與匹配‍​≤層之間(jiān)的(de)粘合材料，實踐證明(míng)效果良好(hǎo)。

    2.5護套、外(wài)殼及電(diàn)路(lπ×ù)闆損壞的(de)保養性檢修

    B超探頭護套是(shì)B超探頭與電(d‌≠$iàn)纜線連接處起加固作(zuò)用(yòng)的(de)膠套，B超探頭護<♥套重要(yào)的(de)作(zuò)用(yòng•☆≤)是(shì)防止電(diàn)纜直角折壓。長(cháng)期使用(↑​™yòng)會(huì)造成護套的(de)斷裂，脫落和(hé)缺失，從↔↑(cóng)而會(huì)造成電(diàn)纜折斷，影(y♦'≠÷ǐng)響圖像。

    B超探頭因長(cháng)期使用(yòng)♦$©會(huì)造成殼體(tǐ)開(kāi)裂老(lǎo)化(huà)，πΩ或因為(wèi)人(rén)為(wèi)的(de)因素如(rú)摔、碰而變形，這(®≠φ∞zhè)時(shí)由于破壞了(le)探頭外(wài)殼的(de)δ>₽屏蔽質量，會(huì)造成圖像幹擾、不(bù)清↔♣，嚴重時(shí)會(huì)從(cóng)σ♥∏€前端出現(xiàn)感應電(diàn)流，危及病人(rén)身(shēn∑÷≠)體(tǐ)。

    在某些(xi±♥¥ē)情況下(xià)，B超機(jī)在開(kāi)機(jī)裝卸探頭或電(diàn)路(l₽γ©ù)打火(huǒ)的(de)時(shí)候，會(hε×→€uì)使探頭內(nèi)電(diàn)路(lù)闆、高(gāo)壓¥↓開(kāi)關燒壞，對(duì)圖像産生(shēng)較大(dà)的(de)影(yǐng)響， ™如(rú)圖像幹擾、無圖像、缺圖像等現(xiàn)象。

    需要(yào≤¶)注意的(de)是(shì)，B超探頭是(sh<¥↔ì)B超機(jī)的(de)核心部件(jiàn)，且價$"'$格十分(fēn)昂貴，一(yī)定要(yào)在排除機(jī)器(qì)自(z ♦ì)身(shēn)故障，确定是(shì)探頭故障後，方可(kě)打開(kāi)探頭。由 ™于B超探頭使用(yòng)頻(pín)繁，因此故障率較高(gāo)，維修應變被動為 ≤(wèi)主動，可(kě)對(duì)探頭定期♣¶₹‌進行(xíng)保養性檢修，将故障處理(lǐ)在萌芽階段→✘[3]。在平時(shí)的(de)使用(yòng)中，∞¶×應該注意到(dào)以下(xià)幾點：從(✔&cóng)主機(jī)上(shàng)插拔探頭前，應先把主機(>&↔σjī)電(diàn)源切斷；使用(yòng)中輕拿(↔♥©ná)輕放(fàng)，不(bù)能(néng)硬拉或使電(diàn)纜線打折，嚴禁敲打♠&★≥、跌落、碰撞；要(yào)使用(yòng)合格的(de)耦合劑，不(bù)要(yà₹&o)使用(yòng)有(yǒu)腐蝕性的(de)或自(zì)配的(de)耦合劑；每次探αδ♦→頭使用(yòng)完畢後，用(yòng)軟布或軟紙(zhǐ)将探頭∞®☆擦幹淨，不(bù)要(yào)用(yòng)水(shuǐ)或有(yǒu)機(jī)溶劑擦σ∞洗，以免探頭內(nèi)部電(diàn)路(‌€§♣lù)進水(shuǐ)或損壞；探頭保護盒中應保持幹燥和(hé)清潔，室內(n≥'èi)要(yào)保持一(yī)定的(de)溫度與濕度，要≥ ☆(yào)有(yǒu)良好(hǎo)的(de)地(dì)線和(≈&hé)穩定的(de)交流電(diàn)源。

    3.討​↔ (tǎo)論

    3.1維修是(shì)一(yī)個(gè)理Ω¶(lǐ)論和(hé)實踐相(xiàng)結合的(de)過程。作(zuò)為(wèi)一(yī)名專®÷φβ業(yè)的(de)維修工(gōng)程技(jì)術(shù)人 "§↕(rén)員(yuán)，不(bù)僅要(yào)↕♣★₹熟悉B超機(jī)的(de)工(gōng)作(zuò)原理(lǐ)，還(háiφ€  )要(yào)熟悉探頭的(de)各個(gè)部件(jiàn)和(hé∞↑™£)作(zuò)用(yòng)，熟悉探頭各個(gè)部件¥£©(jiàn)間(jiān)的(de)關系。不(bù)要(yào)被不(bù'₩ )同廠(chǎng)家(jiā)、不(bù)同型号的(de)探頭（甚至沒有(yǒu)見(jiàn)‍♣過的(de)探頭）所吓倒，因為(wèi)B超機(jī)的(de)工•∏♦(gōng)作(zuò)原理(lǐ)相(xiàng)通¥≠™€(tōng)，各種探頭的(de)結構也(yě)相(xiàng)拟。在熟悉掌握B★♦®超儀基本原理(lǐ)的(de)基礎上(shàng)↑✔σ→，根據故障現(xiàn)象結合電(diàn)路(lù)圖來(∏©₩σlái)分(fēn)析造成故障的(de)原因和(hé)可(kě)能(néng)損壞的(de)器(qδ≈"ì)件(jiàn)；甚至在沒有(yǒu)電(diàn)'∞♥↓路(lù)圖紙(zhǐ)的(de)情況下(xià)，根據機(jī)器(qì)自(zì)檢系統✘> 提供的(de)信息為(wèi)線索，根據探>↓©頭各部件(jiàn)之間(jiān)存在的(de)密切聯•↕系，來(lái)檢查推測判斷故障的(de)位置及原因。最常有(yφ"ǒu)的(de)檢查方法可(kě)采用(yòng)電(diàn✘Ω"£)阻測量，電(diàn)流測量，電(diàσ∏‍n)壓測量，波形測量，元件(jiàn)代換和(h∞ §δé)信号追蹤[3]，在維修的(de)時(shí)候不(bù)能(∏™δ§néng)忽略任何一(yī)個(gè)細節γ↕₽∑。

    3.2指标調校(xiào)是(shì)維☆<修過程的(de)最後環節。一(yī)個(gè)維修δ<₩≥過程一(yī)般分(fēn)為(wèi)五個(gè)環節：了(le)解故障，分(fēn)析故障，故 Ωδ≈障檢查，故障排除，指标調校(xiào)[4]。探頭π>♠♦修複後，維修工(gōng)作(zuò)還(hái)沒☆→有(yǒu)結束，還(hái)必須對(duì)檢修過的(de)探頭進行(xíng)指标調試©€↕→和(hé)校(xiào)驗，經過指标調試和(hé)校(xiào)驗，探頭能(néng)夠☆•恢複到(dào)最佳狀态，整個(gè)維修過程才算(s₹ ₹γuàn)全部結束。如(rú)果有(yǒu∏‍≥)可(kě)能(néng)，最好(hǎo)能(néng)​∞參與一(yī)些(xiē)儀器(qì)設備的(de)研發工(gōng)作(zuò)，因為(wèi≥✔↔)設計(jì)比維修要(yào)高(gāo)一(yī)個(gè)層次[5]。以設計(jì)的(®∑®☆de)思路(lù)進行(xíng)維修，雖然要(yào)求更高(gāo)，但(dàn)對(duΩ₹ì)于今後的(de)維修更能(néng)得♠∏(de)心應手。

    3.3 重視(shì∑↔ )預防性維修是(shì)醫(yī)療器(qì)械工(gōng)程技(jì)術(shù)人(rén)↓↓©∑員(yuán)的(de)基本要(yào)求。B超探頭是(shì)超聲診εβ&‍斷儀的(de)關鍵部件(jiàn)，直接影(y​∑ǐng)響圖像的(de)質量和(hé)診斷的(de)效果，而其使用(yòng)頻(pí™×π☆n)繁，因此造成損壞的(de)可(kě)能(néng)性非常的(de)大 $(dà)，又(yòu)因為(wèi)B超探頭價格比較貴，因此& ←"重視(shì)預防性維修是(shì)醫(yī)療器(qì)械工(gōng)程技(jì)術(↔'&×shù)人(rén)員(yuán)的(de)基本要(yào)求。預防₩®‌性維護保養，預防性維修是(shì)一(yī)項ε©↔經常性細緻的(de)工(gōng)作(zuò)，做(zuò≥≥± )得(de)好(hǎo)，做(zuò)得(de)認真，做(zuò‍×)得(de)嚴格，可(kě)以減少(shǎo)很(hěn)多(d σσ≤uō)故障的(de)發生(shēng)。在超探₽×←•頭出現(xiàn)的(de)很(hěn)多(duō)故障中，除了(le)¥∏探頭本身(shēn)的(de)自(zì)然→₽φ≠損耗必須更換新探頭之外(wài)，探頭的(de)使用₩$α"(yòng)環境較差以及人(rén)為(wèi)故障等等，這(zhè)些(x​←πiē)因素引起的(de)故障都(dōu)是(shì)可(kě)以通(tō↕$ng)過預防性維修來(lái)避免的(de)，不(bù)可(kě)等到(dλ♦ào)有(yǒu)故障了(le)才去(qù)想到(dào)維修。↑'™

【參考文(wén)獻】
  [1] 趙春生(shēng). B型超φ¶聲診斷系統原理(lǐ)結構與故障維修[J]. 醫(yī)療裝備，2003，16（5Ω→☆）：49.

[2] 蔔書(shū)中. 超聲診斷儀換能(néng)器(qì)與探頭概≈σ'述[J]. 現(xiàn)代醫(yī)學儀器(qì)與應用 ♦₹&(yòng).1996，8（2）：7.

[3] [4] 文(wén)劍. B超維修的(de)一(yī)般原則和(hé)÷₽技(jì)巧[J]. 醫(yī)療設備信息，2000，15（2）：48-49.

[5] 李惠平. 關于醫(yī)療設備維修的(de)幾點體(tǐ™←←)會(huì)[J]. 醫(yī)療保健器(qì)具，≠✔2008，111（5）：42.

本文(wén)摘自(zì)首席醫(yī)學網。